日本PROBE探頭 雙頻率斜角探頭
一個(gè)探頭通過(guò)切換可以選擇兩個(gè)不同的頻率。更換了頻率也可以從同一個(gè)入射點(diǎn)發(fā)送和接受超聲波。
用途
?探傷熔接部
?檢測(cè)出帶有傾斜度表面的缺陷
?檢測(cè)裂化
日本PROBE探頭 雙頻率斜角探頭
一個(gè)探頭通過(guò)切換可以選擇兩個(gè)不同的頻率。更換了頻率也可以從同一個(gè)入射點(diǎn)發(fā)送和接受超聲波。用途?探傷熔接部?檢測(cè)出帶有傾斜度表面的缺陷?檢測(cè)裂化
日本 PROBE探頭 雙頻率斜角探頭
一個(gè)探頭通過(guò)切換可以選擇兩個(gè)不同的頻率。更換了頻率也可以從同一個(gè)入射點(diǎn)發(fā)送和接受超聲波。用途?探傷熔接部?檢測(cè)出帶有傾斜度表面的缺陷?檢測(cè)裂化
