日本PROBE探頭 高溫用二振動子垂直探觸子
耐熱性のある振動子、ケース、ケーブルを用いることで高溫條件下での使用が可能です。探傷や測定方法によりなプローブを選択いただけます。また、導波棒を用いた測定も必要に応じて設計致します。

日本PROBE探頭 高溫用二振動子垂直探觸子
耐熱性のある振動子、ケース、ケーブルを用いることで高溫條件下での使用が可能です。探傷や測定方法により最適なプローブを選択いただけます。また、導波棒を用いた測定も必要に応じて設計致します。
日本PROBE 探頭 高溫用二振動子垂直探觸子
耐熱性のある振動子、ケース、ケーブルを用いることで高溫條件下での使用が可能です。探傷や測定方法により最適なプローブを選択いただけます。また、導波棒を用いた測定も必要に応じて設計致します。
日本PROBE 探頭 高溫用二振動子垂直探觸子 耐熱性のある振動子、ケース、ケーブルを用いることで高溫條件下での使用が可能です。探傷や測定方法により最適なプローブを選択いただけます。また、導波棒を用いた測定も必要に応じて設計致します。







